Optické profilometry od předního výrobce Zygo řady NewView 9000 jsou výkonné interferometrické systémy nové generace s patentovanou technologií Zygo Coherence Scanning Interferometry (Zygo CSI). Zygo CSI kombinuje výhody konvenčního CSI režimu (též White light vertical scanning interferometry) s měřením fázového posuvu (PSI – Phase Shifting Interferometry), čímž umožňuje extrémně přesné a rychlé měření široké škály povrchů - od superhladkých po velmi drsné, od leštěných zrcadlových povrchů přes transparentní (sklo a plasty) až po matně černé hokejové puky.
Díky kombinaci těchto metod je možné provádět měření na transparentních i netransparentních materiálech, jako jsou kovy, sklo, polymery, keramika, ale i organické materiály. Lze měřit například transparentní multivrtsvy, hrubé i vysoce leštěné reflexní kovové vrstvy a další, a to bez nutnosti volby módu měření.
Klíčové vlastnosti
- Funkce Smart setup pro nastavení a měření stiskem jediného tlačítka
- Bezkontaktní metrologie povrchu bez nutnosti úpravy měřeného prvku
- Modulární design
- Vysoká rychlost měření (až 171 µm/s)
- Sub-nanometrová přesnost
- Široký výběr objektivů
- Funkce crash protection chránící objektiv proti nárazům
- 3D interaktivní mapy povrchu
- Flexibilní metrologická analýza
- Komplexní software pro vizualizaci a analýzu dat Zygo Mx
