Spektroskopický elipsometr RC2

Spektroskopický elipsometr RC2 od J.A. Woollam s novou technologií Dual RCE (Rotating Compensator Ellipsometry) umožňuje rychlé a vysoce přesné měření široké škály materiálů jako např. organických materiálů, dielektrik, polovodičů i kovů. Jedná se o modulární systém v konfiguraci PCSCA (Polarizer-Compensator-Sample-Compensator-Analyzer). Díky technologii Dual RCE měří RC2 spojitě (bez singulárních bodů) a s vysokou senzitivitou v celém rozsahu elipsometrických hodnot.

Používá se pro charakterizaci tenkých vrstev a zjištění optických vlastností materiálů jako například komplexní index lomu a koeficient absorpce.

Široký spektrální rozsah s proměnným úhlem měření umožňuje charakterizaci i vícevrstevných struktur.

Klíčové vlastnosti

  • Nejpřesnější elipsometr na bázi CCD
  • Měření kompletní Muellerovy matice
  • Modulární design
  • Flexibilní systémová integrace
  • Dual RCE technologie se dvěma rotujícími kompenzátory
  • Nejširší spektrální rozsah při simultánní detekci celého spektra
  • Možnost měření v in situ i v ex situ konfiguraci

Elipsometry řady RC2 jsou vybaveny plně automatizovaným systémem sběru dat a motorizovaným pracovním stolem, který umožňuje mapování vzorku a charakterizaci vrstev (homogenita, drsnost, fázové přechody, ...).

Richard Schuster
Odborný poradce

Ing. Richard Schuster

+420 601 123 593

schuster@optixs.cz

Zaslat poptávku

OptiXs care

  • Odborně zkonzultujeme vaši plánovanou aplikaci
  • Náš tým je schopen produkt integrovat i do většího systému
  • Zajistíme rychlé dodání náhradních dílů a lokální servis
S čím dalším můžeme pomoci

Parametry

Design Dual RCE (PCSCA)
Úhly dopadu 45°-90° (Automated Angle Base)
20°-90° (Vertical Automated Angle Base)
65° (MicroFocus base, Fixed Angle / Test Base)
Detektor

CCD

Rychlost sběru dat (celkové spektrum)

0.3 sekundy na kompletní spektrum

Spektrální rozsah

max : 193 - 2500 nm
(celé spektrum naráz)

  • RC2 je prvním spektroskopickým elipsometrem umožňujícím měřit všech 16 prvků Muellerovy matice v celém spektru, což umožňuje charakterizovat i ty nejnáročnější vzorky a nanostruktury. Například lze charakterizovat vrstvy, které jsou depolarizující a anizotropní současně.
    Například tak můžeme měřit multivrstvy s tekutými krystaly, vrstvy uspořádaných plazmonických nanočástic a mnohé další.
  • Patentovaný design využívající achromatických rotujících kompenzátorů je optimálním řešením pro široké spektrální měřicí rozsahy i dlouhodobou stabilitu, spolehlivost a životnost zařízení.
  • Modulární design umožňuje variabilitu konfigurace měření, ať už potřebujete zmapovat velkou plochu vzorku s fokusovaným svazkem pro vysoké prostorové rozlišení, nebo chcete měřit růst vrstev in situ, případně vás zajímá měření v průtokové cele, nebo jen obyčejné bodové měření, na vše může nabídnout řešení jediný přístroj: RC2.

Díky kombinaci dlouholetých zkušeností a inovativních řešení tak J.A.Woollam představuje přístroj s bezkonkurenčními možnostmi rychlé a přesné spektroskopické elipsometrie - a to jak standardní (SE), tak i zobecněné (g-SE) a kompletní Muellerovy matice (MM-SE).

Dokumenty

RC2 Brožura

Novinky

Zobrazit vše

Aplikace

Poptat produkt

Máte zájem o produkt? Zašlete nám své požadavky skrze poptávkový formulář nebo využijte přímý kontakt na odborného poradce. Rádi zodpovíme vaše dotazy a navrhneme řešení dle vašich potřeb.

Odborný poradce

Richard Schuster

Ing. Richard Schuster

200 @ shop_product
HTTP status 200 OK
Route name shop_product
Has session yes
Stateless Check no
Version 3.3.5
Resource Class Not an API Platform resource
Time 645 ms
Total time 645 ms
Initialization time 12 ms
Memory 46.0 MiB
Peak memory usage 46.0 MiB
PHP memory limit 512 MiB
5
5 AJAX requests (Clear)
# Profile Method Type Status URL Time
1n/aGETfetchn/a/translate/javascript/locale-cs200 ms
2n/aGETxhrn/a/api/search/eshop-categories/name/200 ms
3n/aGETxhrn/a/api/search/articles/name/200 ms
4n/aGETxhrn/a/api/search/applications/name/200 ms
5n/aPOSTxhrn/ahttps://5VBC394UTY-dsn.algolia.net/1/indexes/*/queries?x-algolia-agent=Algolia%20for%20JavaScript%20(4.25.2)%3B%20Browser%20(lite)%3B%20instantsearch.js%20(4.79.0)%3B%20Vue%20(3.5.17)%3B%20Vue%20InstantSearch%20(4.21.0)%3B%20JS%20Helper%20(3.26.0)&x-algolia-api-key=a953a803aba580b235586678f01b508f&x-algolia-application-id=5VBC394UTY200 ms
Cache 2
Number of forms 2
Number of errors 0
Logger 54
Errors 0
Warnings 0
Deprecations 54
Cache 68 in 0.77 ms
Cache Calls 68
Total time 0.77 ms
Cache hits 44 / 56 (78.57%)
Cache writes 12
29
Default locale cs
Missing messages 29
Fallback messages 0
Defined messages 0
Security n/a
Authenticated No
Firewall name main
Twig 170 ms
Render Time 170 ms
Template Calls 25
Block Calls 105
Macro Calls 0
87 in 16.87 ms
Database Queries 87
Different statements 29
Query time 16.87 ms
Invalid entities 9
Second Level Cache disabled
6.4.8
Profiler token 43a2cf
Environment dev
Debug enabled
PHP version 8.3.20   View phpinfo()
PHP Extensions Xdebug ✓ APCu ✓ OPcache ✓
PHP SAPI fpm-fcgi