Elipsometr alpha 2.0 od J.A. Woollam je následovníkem cenově dostupného spektroskopického elipsometru alpha-SE.
Je vhodný pro rutinní měření tloušťky a indexu lomu tenkých vrstev ve viditelném spektrálním rozsahu. Díky kompaktním rozměrům a jednoduchému příslušenství se alpha 2.0 snadno ovládá a zároveň nabízí spolehlivost a přesnost spektroskopické elipsometrie.
Věrohodná data získáte po vložení vzorku stisknutím jediného tlačítka, to vše v řádu jednotek sekund.
Klíčové vlastnosti
- Jednoduchá obsluha
- Flexibilita
- Rychlé měření celého spektra díky CCD detektoru
- Příznivá cena
- Nová generace SE s patentovanou technologií duální rotace
